【儀器信息網 新品發(fā)布】近日，日立分析儀器(上海)有限公司宣布推出EA1280新型能量色散X射線熒光分析儀，可以用于測量環(huán)境有害物質。新型EA1280具有中國國家標準(GB標準)建議要求的檢測器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導體檢測器，其工作效率和分析準確度更高。
EA1280X射線熒光分析儀特點及優(yōu)勢：
1. 使用新型高性能半導體檢測器(硅漂移檢測器(SDD))，便于提高測試工作效率和獲得更可靠結果。
2. 采用同軸光學器件進行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。
3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質量控制和過程控制培訓即可使用分析儀。
EA1280 技術規(guī)格
型號 | EA1280 |
測量元素范圍 | 13Al～ 92U |
準直器（分析光斑尺寸） | 5 mmΦ（1、3 mmΦ：可選） |
初級濾波器（用于優(yōu)化性能） | 5種模式（4臺濾波器+關閉）自動切換 |
樣品艙 | 環(huán)境大氣 |
檢測器 | 高性能SDD |
分析儀尺寸 | 520（寬）×600（深）×445（高）mm |
重量 | 約69 kg |
樣品艙尺寸 | 304（寬）×304（深）×110（高）mm |
魯公網安備37021402001368號