【儀器儀表網(wǎng)  新品動態(tài)】近日，日立高新技術公司推出兩款FE-SEM(場發(fā)射掃描電子顯微鏡)“SU8600”和“SU8700。該產品配置自動獲取大量數(shù)據(jù)的功能，可用于觀察、測量和分析樣品細微結構，被廣泛用于半導體、生命科學和材料研發(fā)等領域。

在細微結構分析中，SU8600可以實現(xiàn)低加速電壓觀察，對高分子等易受電子束照射影響的材料進行高分辨觀察。SU8700可配置各種分析附件，適用于從低加速觀察到高束流的EBSD*3分析，支持陶瓷、金屬等不同材料的解析。

FE-SEM SU8600和SU8700場發(fā)射掃描電子顯微鏡的產品特點：

1.支持自動獲取數(shù)據(jù)

在FE-SEM的觀察和分析中，需要根據(jù)測量樣品與需求調整觀察條件。調整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質量與效率差異的因素之一。此系列產品標配自動調整功能，可避免人為操作導致的差異。

2.增加獲取信息的種類與數(shù)量

通過SEM能夠收集到多種信號，且此系列產品zui多可以同時顯示和存儲6個檢測器的信號。在減少圖像獲取次數(shù)的同時能夠獲取多種信息。

3.增強信號檢測能力

SU8600開發(fā)了多個新型選配檢測器，加強了對凹凸信息、發(fā)光信息的檢測能力。此外，還提高了背散射電子信號檢測的響應速度。