自1929年成立以來，CAMECA不斷為國際一流科研機構(gòu)提供大型材料分析儀器，并為半導體行業(yè)的精準測量需求提供解決方案。CAMECA在多個尖端微量分析技術上開拓進取，精益求精，所提供的設備包括：  二次離子質(zhì)譜儀(SIMS) ，三維原子探針斷層分析術(APT) ，電子探針微量分析 (EPMA) ，低能量電子激發(fā)X射線發(fā)射光譜(LEXES) CAMECA的總部鄰近法國巴黎，分支機構(gòu)遍及美國，德國，日本，韓國，中國，中國臺灣，以及一個全球代理商網(wǎng)絡，充分保證我們的支持服務惠及所有用戶。 2007年，CAMECA加入AMETEK Inc.，成為這家全球電子和機電產(chǎn)品領先供應商的一部,隸屬 AMETEK 材料分析部。   [詳細介紹]